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끊임없는 연구개발과 혁신으로
더 나은 디스플레이의 미래를 창조합니다.

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AOI

将Pattern 内部Pattern 不良通过光学拍摄影像感知缺陷的功能

구성 / 적용분야

▶ 光学 UNIT
- Laser Repair 光学 unit 检查并修理缺陷
- Focus 自动调节
- 根据检查对象(Design)控制和补正照明

▶ 缺陷检查  
- 可在Panel所有领域 (PAD, GOA(Gate-On-Array), ACTIVE) 高速检查

▶ a-Si TFT & LTPS TFT Pattern 不良检查

▶ Oxide TFT & LTPO TFT Pattern 不良检查

특징 / 성능

▶ 高速检测和修理不良

▶ 高倍率检查(20X, 50X)

▶ 根据检查对象选择照明(Design)(Reflective Light / IR Light)

▶ PAD line追溯检查